★ 查找失效电容、二极管、TTL或CMOS芯片、可控硅等；

★ 采用离线测试，避免线路板带电测试时将导致的进一步损坏；

★ 双输入通道(AB交替方式)，可使使用者对损坏板元件与同型号完好元件进行比较分析；

★ 对于专用元件，仪器可提供专门的低电流交变信号，通过观察电压、电流特征响应，即可诊断元件损坏与否；

★ 可调测试参数能够对于专用元件的特征响应加以突出及衰减；

★ 不同参数范围允许操作者选择特殊的电压、电阻及频率组合，为各种特别元件的测试量身裁衣；

★ 通过改变量程参数，实现特征响应方位图差异性的聚集分析，例如调节电压量小于600mV，无源元件可在无连带半导体影响的条件下测试其特征响应；