筛选
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★ 查找失效电容、二极管、TTL或CMOS芯片、可控硅等;
★ 采用离线测试,避免线路板带电测试时将导致的进一步损坏;
★ 双输入通道(AB交替方式),可使使用者对损坏板元件与同型号完好元件进行比较分析;
★ 对于专用元件,仪器可提供专门的低电流交变信号,通过观察电压、电流特征响应,即可诊断元件损坏与否;
★ 可调测试参数能够对于专用元件的特征响应加以突出及衰减;
★ 不同参数范围允许操作者选择特殊的电压、电阻及频率组合,为各种特别元件的测试量身裁衣;
★ 通过改变量程参数,实现特征响应方位图差异性的聚集分析,例如调节电压量小于600mV,无源元件可在无连带半导体影响的条件下测试其特征响应;