LW-200-4JS正置金相显微镜

产品介绍：

LW-200-4JS适用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子工业部门作晶体，芯片及新材料等方面的检验与分析。

产品特点：

选型提示：
1、LW-200-4JS，图像适配镜，数码相机
2、LW-200-4JS，图像适配镜，300万数码彩色摄像头
3、LW-200-4JS，图像适配镜，彩色摄像头，图像采集卡
4、金相显微镜分析系统：显微镜主机，CCD适配镜，数码彩色摄像头300万像素，金相分析软件
（提示：在电脑显示器上很方便地观察金相图像，对金相图谱进行分分析，自动评级等对图片进行
输出、保存、打印报告等，也可对图像进行测量等）
选配件 :
*金相分析软件；测量软件；数码相机；采集卡等
*目镜:16X/20X；
*物镜:20X/25X/60X/100X干镜

技术参数：

三目镜筒	平场目镜	平场物镜	转换器	总放大倍数	载物台	聚焦镜	调焦	光源	配CCD图像适配镜
瞳矩50-75mm 视度±5° 辅助倍数1.25X	高眼点10XΦ20mm	PL4X，PL10X，PL40X，PL100Xoil(可调换80X干镜)	四孔（可选五孔转换器）	50X-1250X	尺寸160mm140mm 移动范围75mm50mm	可调式阿贝聚焦镜NA1.25 孔径光栏滤色片座	粗微动同轴升降范围20mm 微动格值:0.002mm	柯勒照明确正交偏振装置滤色片座可调卤素灯12V50W