XLE-IA型大平台金相检测显微镜

产品介绍：

XLE-I型大平台金相检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。主体为：正置式，三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器直接观察。可连接计算机打印报告，照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，储存，查询，可省去复杂烦琐的摄像，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。检测显微镜具有独特的特点：1）放大倍数：40倍至500倍；2）超大型载物台，样品可作为大范围的纵横方向快速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子，冶金，机械，化工，科研，院校等部门，以及金相技术检验，失效分析等。

技术参数：

目镜	现视场直径	放大倍数	纵向移动范围	横向移动范围
10× 12.5×	18mm	350mmX255mm	200mm	200mm