SK2008金相显微测量分析系统

产品介绍：

2008型金相显微图象测量分析系统:
2008型金相显微图象测量分析系统包括数码金相显微镜及图像测量分析软件.系统集成了传统目视与现代影像功能，内置高亮度可持续调节的同轴光.高达400X－4000X的电子放大倍率和40 X－400 X的光学放大倍率, ±300纳米测量精度，使成像更加清晰可见.由赛克专业开发图像测量分析软件,能够快速的捕捉各种图像,具有图像测量、管理及处理等功能.产品适用于IC芯片、PCB覆铜板、液晶屏导电离子的检测和工矿、科研,教学等单位研究和观察等.尤其对于细小颗粒、粉末试样、大批金相和大面积硅片的检测,可得到的图像效果. 本产品是经济普及型亚纳米级测量产品,比同类产品具有的性价比.

产品特点：

◆ 内置连续可调光源
◆ 4000X电子放大率,高质素成像
◆ 配合机台使用卤素灯（视光栏和孔径光栏大小可调）
◆ 内置式高清晰saike image card
◆ 纵、横可移动平台
◆ 采用松下原厂CCD摄像头
◆ 外设独特的目镜
◆ 适应明视场、暗视场
◆ SKD－CL2软件系统可进行各种图像测量和处理
◆ 支持多种格式,可进行图像存储、编辑、打印、发送、格式化等

技术参数：

视场	0.6－0.01mm
显示方式	电脑监视器液晶屏电视机
工作距离	0.5－10mm
电子倍率	400X 1000X 4000X
光学倍率	40X　100 X　400X
照明光源	同轴光
图像器件	松下原厂1/2CCD摄像头
图像输出	Av信号
图像卡	高清晰 saike image card