日本日置HIOKI微电阻计3541

现货多台日本日置HIOKI3541 微电阻计/电阻测试仪

宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计

•广范围测量低0.1μΩ(20.00mΩ)，高110MΩ

•快速采样,快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异)

•补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能

•运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计

•具备统计、演算功能。若再另配选件的9670,可达到印字功能。

基本参数

电阻计3541

测量电流

20mΩ(大显示20.0000mΩ, 分辨率0.1μΩ)~100MΩ量程(大显示110.000MΩ，分辨率1kΩ)，11档切换
[Low Power ON时] 2Ω(大显示2.00000Ω，分辨率10μΩ)~2kΩ量程(大显示2.00000kΩ，分辨率10mΩ)，4档切换

测量精度

(SLOW2) ± 0.007% rdg. ±0.0015%dgt.(2k/20kΩ)
[Low Power ON时]: ± 0.011% rdg. ±0.01%dgt.(2～2kΩ)

测量电流

DC 1A～100nA, [Low Power ON时]: DC 10m～10μA

开路端子电压

DC 5V(20/200m), 2.6V(2～20k), 13V(1M～100M),[Low Power ON时]: 60mV

采样速度

	快速	中速	低速 1	低速 2
50Hz	0.6ms ± 0.3ms	21ms ± 1ms	155ms ± 5ms	455ms ± 10ms
60Hz	0.6ms ± 0.3ms	17ms ± 1ms	149ms ± 5ms	449ms ± 10ms
应答时间(纯电阻时)：上记采样时间+约1ms(根据设定内容、试料的不同,会有差异)

电阻计3541

其它功能

温度测量(-10.0~99.9 °C )，温度补偿阻抗值换算，卷线温度上升值换算，比较功能，多可储存装填30种设定条件,分类(BIN)测量(10分类), 统计运算, 补偿偏置电压，迟延 , 平均

数子输入/输出

输出: BCD, 测量结束,比测仪结果, BIN结果, NG/开放连接器输入: 设定条件选择, 触发, 校准, 0ADJ,印刷 /C-MOS

供应电源

AC 100～240V, 50/60Hz, 30VA max.

体积于重量

215宽 × 80高 × 295厚mm, 2.6kg