老化试验箱 TST-E801

一、老化试验箱TSTT:

本产品适用于电工、电子产品、元器件、零部件及其材料在高温恒温环境下拧存运输、使用时间适应性试验。
本产品符合GB/11158-89、GB2423.2-89

结构特点：
①该系列产品的温控采用进口仪表，带PID调节、快速自整定，数字式显示，读数方便。
②工作室及试品架为不锈钢材料，外箱体为上等冷乱板喷塑而成，外形美观。
③箱门与工作室、外壳设有耐高温无压密封装置，有效的保证箱体的密封性。
④箱体右侧设有带调节伐的进气口及排装置，保护气体流量可调。
⑤有超温保护及控制回路过载保护、短路保护，使用安全可靠。

结构特点：
㈠、温度范围：RT+10℃~300℃
㈡、温度波动度：≤±0.5℃
㈢、温度偏差：RT+10℃~200℃：≤±0.2℃+200℃-300℃：≤±3℃