载波包络相移测量仪 CEOLiT

载波包络相移测量仪-CEOLiT-采用载波包络相移线性传输环形腔技术

当前测量载波包络相移的方法要求
-激光脉冲需要倍频程宽度
-足够的脉冲能量来驱动非线性过程
-频谱范围受非线性过程的限制

本公司测量载波包络相移的解决方案：CEOLiT

方案特点

1. 采用线性光学干涉测量技术；

2. 无带宽限制；

3. 无光谱范围限制；

4. 高精度载波包络相位测量；

5. 调整和使用方便；

6. 采用超稳定HeNe激光，对环形长度进行测量并控制在1um以下。

上图中的BS1和BS2为分光镜，光谱图上光谱干涉条纹的数量取决于环的长度调整。光谱位置由包络载波相移来决定。

原理应用

CEOLiT载波包络相移测量仪用于对超短脉冲串的载波包络相位漂移进行精确测量。其原理是超稳定传输环的光谱传输由脉冲串的载波包络相移来决定。由于该技术为完全线性化技术，CEOLiT装置是世界上独一无二的能够对从VUV到IR极端波长微弱脉冲的载波包络相移进行测量的产品，光束带宽可以窄化到一个倍频程。

技术参数

① 取决于光谱仪的情况，上表数值为800nm脉冲， 0.3nm分辨率光谱仪的数值。

② 其他重复范围请联系我们。

③ 取决于镜组和分光镜组的情况。