光學結構

反射 : d/8;SCI ( 鏡面光包含 )/SCE ( 鏡面光不包含 ) 可切換 ;

d/8 光學結構符合 ISO 和 DIN 標準 ;

d/0 之光學結構也符合 CIE 和 ASTM 標準 穿透 : d/0.

偵測器

Silicon photodiode array with flat holographic grating

測量波長范圍

可見光從 360 到 740nm 每間隔 10nm

精確度

反射率從 0 到 200% Resolution: 0.001%

光源

脈沖氙弧燈

測量時間

0.6-0.8 秒 . ( 從開始測量到數據輸出 )

照明 / 測量 面積

反射 : 可更換 : LAV: ψ 28mm 照明 / ψ 25.4mm 測量 ;

MAV: ψ 11mm 照明 / ψ 8mm 測量 ;

SAV: 5x7mm 照明 / 3x5mm 測量 ; 穿透 : 大約ψ 20mm

再現性

光譜反射率 : 標準偏差 ≦ 0.05%

色差值 : 標準偏差Δ E*ab 0.01 ≦ ( 測量條件 : 執行校正後測量校正白板 , 測 30 次每次間隔 10 秒 )

機台交換性 (LAV)

较大Δ E*ab 0.3 基於 12 BCRA Series Ⅱ 色板測量值與標準機台比較

溫度影響

光譜反射率 : ≦± 0.1%/ ℃ 色差值 : ≦Δ E*ab 0.05/ ℃

UV 調整

電腦控制 ; 連續調整

穿透測量之樣品

薄片 , 色板 , 或 液體 ( 裝在容器中 ) 较大厚度不超過 50mm

通訊接口

RS-232C

電源

AC 100V/120V/230V 50/60Hz

操作溫度 / 濕度范圍

13 to 33 ℃ (53 to 48F); 低於 80% 相對濕度無冷凝

儲存溫度 / 濕度范圍

0to 40 ℃ (32 to 96F); 低於 80% 相對濕度無冷凝

體積 (W × H × D)

271 × 259 × 500mm

重量

18kg (39.7 lb.)

標準配置

校正白板 CM-A90; 目標罩 (3x5mm)CM-A91 ;

目標罩 ( ψ 8mm)CM-A192;

目標罩 ( ψ 25.4mm)CM-A93;

零點校正盒 CM-A94;

變壓器 AC-A12; RS-232C 通訊線 CM-a52

可選 配置

穿透測色架 CM-A96, 石英槽 (2mm) CM-A97/ (10mm) CM-A98/ (20mm) CM-A99;

穿透零點校正板 CM-A100, RS-232C 通訊線 (IBM PC) CM-A53 CM-A55 / (NEC PC) CM-A56