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品名：统计型膜厚计
型号：wi14690

统计型膜厚计 
测定对象 磁性金属上非磁性薄膜/非磁性金属上绝缘薄膜 
测定范围 磁0~1500µm;涡0~800µm 
测定精度/解析www.winstrument.cn度 未满50µm：±1µm；50µm以上±3%/未满100µm：0.1µm；100µm以上1µm 
最小测定面积 7×7mm 
测定功能 1.单点测试 2.连续扫描测试，可测试膜厚分布变化 
显示方式 LCD数字大型屏幕显示，16键密封按键，公、英制可切换µm/mils 
校正记忆容量 4组，任何时间开机后不需再重新校正 共8组 
资料记忆/统计功能 3142点/测定次数、平均值、最大值、最小值、标准偏差 
电源/电池寿命 单3号电池*4/连续使用60小www.winstrument.cn时，并具节电功能，15分钟未使用自动关机 
校正记忆功能 非挥发性记忆体可记忆归零正值，任何时间开机不需再重新校正 
界限值功能 可www.51666810.cn
任意设定上、下限判定功能，如测值超出范围则电子报警 
尺寸W×D×H/重量 75×145×31mm/500g 
选择配件 可选配RS232界面卡同电脑连接，或VZ-300打印机  
  
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