贵金属检测仪 EXF7800
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价格: 面议
产品型号:EXF7800
公司名称:深圳市西凡科技有限公司(商务部)
地:广东深圳
发布时间:2009-08-04
深圳市西凡科技有限公司(商务部)
产品简介
符合最严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式。探头指标高,性能好,寿命长;全新32位软硬件系统,工作可靠,效率高;配备高清晰的摄像定位系统,测量更直观、方便、快捷。配置固定样品用多轴向夹具。 EXF7800在EXF7200的平台上集成工业级计算机,升级了显示屏幕和电路结构,无需再外接电脑;造型时尚专业,带多节点预启动装置和实时监控系统;带门锁电锁,使得日常管理更便捷;加装自
产品详情
                                                                                              贵金属检测仪
激发源:Mo靶的X光管 风冷 (无辐射)
联系人:  金先生 
测量点尺寸:1~2mm
样品室: 长400 mm×宽: 300mm×高: 0~90 mm样品放大成像系统
软件:菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算
计算机:选择配置
检测器:固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路
其它规格:
    电压:100~127或200~240V,50/60 Hz
    最大功率:120W
    最大处尺寸:500mm*500mm*400mm
    重量:48kg
技术指标
    分析范围:1%~99.99%
    测量时间:自适应
    测量精度: ± 0.1%
    测试环境:常温常态
    分析元素:Au 、Ag 、Pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd﹑W
    X射线源:X射线光管
    高压器:4~50Kv
    分析:多通道模拟
    操作系统:Windows2000/Me/XP
镀层测量:
    镀层厚度范围<30μm
    可测量元素种类:Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd
    最大测量层数:5层
测量精度:0.03μm
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