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薄膜测厚仪（涂层）

价格： 面议

产品型号：ST6000　

公司名称：苏州安创仪器有限公司

所在地：北京通州

发布时间：2009-08-07

联系人：石晓泉

联系电话： 0512-68787343

苏州安创仪器有限公司

产品简介

薄膜测厚仪（涂层）

产品详情

• 技术参数
• 活动范围 ：370mm x 470 mm~
  测量范围 ：100Å~ 35㎛
  光斑尺寸 ：40㎛/20㎛, 4㎛(option)
  测量速度 ：1~2 sec./site (fitting time)
  应用领域 ：1）聚合体: PVA, PET, PP, PR
  
  2）电解质: SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 ...
  
  3）半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
  
  4）显示 : PR, ITO, SiO2, TiO2, ZrO2, SixNx
  
  
  

• 主要特点
• 通讯接口模块传达方式
  
  自动机械活动控制
  
  电荷耦合器件照相机
  
  自动调焦
  
  模式识别
  

• 仪器介绍
• 韩国K-MAC (株) 公司和附属韩国物理性质分析研究所主要开发生产具有高科技含
  的理化学分析仪器和应用仪器。仪器的适用范围有半导体，医疗，环境及工程监控等。
  公司还通过表面和构造分析服务，提供半导体等精密部件的研究开发所需的必要数据。
  

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