分 析 范 围: 1PPM-99.99%
同 时 分 析: 几十种元素同时分析
测镀层厚度精确至0.01微米
测 量 对 象: 固体、粉未、液体
测 量 时 间: 60-300 秒
测 量 精 度 : 0.05%
分 析 元 素: Na-U
工 作 温 度: 15-26℃
相 对 湿 度: ≤70%
重 量 : 80KG
功 耗: 200瓦

1 仪器尺寸 630mm*440mm*380mm
2 测量样品室 400mm*260mm*110mm
3 重 量 约 40Kg
4 适宜温度 5-30 ℃
5 相对湿度 ≤ 80%
6 元素分析范围 钾 (K) 到铀 (U)
7 含量分析范围 为 2 PPm 到 100000 ppm
8 测量时间 60-300 秒 ( 任意调整 )
9 分辨率 149 -- 186 eV FWHM @ 5.9 KeV
10 电源 交流 220V ± 5V 或 110V ± 5V
11 电源频率 47-63 Hz
12 高压输入 +24V dc+- 10% ， 4.0 A （最大）
13 高压输出 0 -50KV @ 1mA 最大功率 50W

仪 器 配 置： 
电制冷硅探测器 美国Amptek公司定制
高压电源          美国Spellman
DP4          高集成度核心数据处理器美国Amptek公司定制
X光管          荧光分析仪专用
制冷系统          在电子式制冷的基础上又增加两套独立水循环制冷系统
摄像定位系统
计算机          DELL-OPTIPLEX 210L商务
软件          ROHS标准全套检测软件