2.电致冷探测器技术
元素分析范围: Be (4) 至 U (92)
最好的轻元素分辨率 优于F Ka 65eV, Mn Ka 133eV (保证分辨率为安装在SEM系统上测量)精确的峰形,低能端不产生杂散峰。高计数下分辨率损失小。
可选择晶体面积:10mm2, 可耐2个以上大气压的超薄窗口材料,无需除霜。
免维护探测器技术,年运行费用零费用。目前中国已有30家以上用户
3.UltraDry硅漂移探测器
高计数率高效Si漂晶体:
元素分析范围: B (5) 至 Fm (100)
最好的轻元素分辨率 优于 Mn Ka 140eV(5000cps),Mn Ka 175eV (60,000cps)(保证分辨率为安装在SEM系统上测量)
精确的峰形,低能端不产生杂散峰。
高计数下分辨率损失小。
可选择晶体面积:10mm2, 可耐2个以上大气压的超薄窗口材料,无需除霜。无需液氮。通电后15分钟内可达工作条件
主要特点
1.NORAN System SIX (系统6)是赛默飞世尔科技集40年的EDS制造经验推出的第6代X射线微区分析技术。
2.专利的、强大的全数字脉冲处理电子学线路;最大计数率超过70,000CPS。
3.高分辨的X射线探测器。
4.窗口重叠峰剥离专利技术。
5.增强的轻元素分辨灵敏性。
6.智能的定性分析:自动峰鉴定、谱核查等功能,以确保数据结果的正确性。
7.智能的定量分析:背底模拟和高斯重叠峰剥离;无标样、有标样和混合标样定量分析;PROZA, ZAF 和 Bence-Albee基体修正。
8.容易使用的谱分析导航器,单一的用户界面管理全部的分析工作:采谱设置,数据收集、分析,数据管理和报告。
9.功能最强大的分析模式:自动多点分析、任意选取的元素面分布和线扫描模式、Spectral Imaging全谱元素图象采集、3D显示、COMPASS化合物自动分析等功能。能谱分析软件具有峰位校准、元素定性定量分析、自动谱峰识别、重叠峰剥离、自动背底修正。
10.多种自动化功能:零峰抑制、自动DPP比率、能量范围自动设置、采谱参数、亮度和对比度、自动设置定量面分布图的分辨率。