镀层测厚仪 Dualscope FMP40

新款DUALSCOPE^® FMP40镀层测厚仪作为FMP30-40系列的一部分，比标准版仪器具有更广泛的可用性。

这些仪器集成了许多附加的功能，如最多可达100个应用程式及相应的统计学和图形评估。

将容差限输入可校准应用程式后，生产过程可以进行统计地分析。常规模式可以转换到矩阵模式，以便于进行多点相关联的测试。.

以上介绍的只是其中极小一部分的功能特性。

FMP30-40镀层测厚仪系列特性:（比FMP10-20多出的特性）

• 自动识别基材（FMP40）

• 可储存20000个测量数据

• 可储存100个应用程式

• 可储存4000个数据组

• 数据组带日期和时间标志

• 数据组和所有数据统计值

• 测量数据直方图显示

• 可以输入过程公差极限并计算相应的工艺能力指数Cp和Cpk

• 当超出公差极限是,有声音和视觉警告信号

• 连续测量模式下，测量数据可在上下限范围内模拟显示

• 外部按键触发测量模式，可用于测量小尺寸的圆管内壁

• 可在未知涂层上校准（仅适用于磁感应方法）

• 可使用矩阵测量模式进行大量测量

• 取平均值：仅储存几个测量数据的平均值

• 区域测量：只显示读数，探头提起后才储存并取平均值

• 探头放在工件上可连续测量

• 离奇值控制可自动排除错误的测量值

• 可修改已储存的测量值

• 应用程式连接模式：可共享校准信息

• 通过MP-Name软件可以为应用程式命名

• USB接口可连接打印机

• 使用电池和外界电源