薄膜测厚仪（CHY-CA型自动进样）

薄膜测厚仪（CHY-CA型自动进样）适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度精确测量。了解详情请致电：济南兰光

薄膜测厚仪特　　征

微电脑控制、液晶显示

菜单式界面、PVC操作面板

接触式测量

测头自动升降

自动进样
手动、自动双重测量模式

数据实时显示、自动统计

显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
可设进样步距、测量点数、进样速度等参数

标准接触面积、测量压力（非标可选）

显示最大值、最小值、平均值和统计偏差

标准量块标定

RS232接口

网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输

薄膜测厚仪技术指标

测量范围：0～2mm

　　　　　0～6mm；12mm（可选）

分辨率：0.1μm

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）

接触面积：50mm²（薄膜）；200mm²（纸张）

　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

进样步距：0～1000mm

进样速度：0.1～99.9mm/s

电　　源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）

净　　重：32kg

薄膜测厚仪标　　准

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817