蒸气老化寿命试验箱 & HRS-5470

采用微电脑温度控制器P.I.D+P.W.M+S.S.R控制LED数字显示。T型热电耦，感应器与精确的温度可控制解析能力0.1℃。蒸器试验目标设定控制，蒸器试验运转计时设定控制。可扩充预约开机时间控制装置，纯水逆渗透自动供水装置。

蒸气老化寿命试验箱 & 应用：

蒸汽老化箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。

采用微电脑温度控制器P.I.D+P.W.M+S.S.R控制LED数字显示。T型热电耦，感应器与精确的温度可控制解析能力0.1℃。

蒸器试验目标设定控制，蒸器试验运转计时设定控制。可扩充预约开机时间控制装置，纯水逆渗透自动供水装置。

T型热电耦感知器与精确的温度可控制解析能力0.1℃。

蒸气老化寿命试验箱 & 技术参数：