仪器介绍

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X射线荧光分析仪

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荧光分析仪

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专业RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片
电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷
智能RoHS检测软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单

技术指标

测量元素：从硫到铀等 75 种元素
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限最高达 1ppm
测量时间：60-300s
能量分辨率：165±5eV
管压：5-50 kV
管流：50-1000μA

标准配置

信噪比增强器
独特的光路增强系统
电制冷硅针半导体检测器
内置高清晰摄像头
自动切换准直器和滤光片
精准的移动平台
加强金属元素感度分析器
相互独立的基体效应校正模型
任意多个可选择的分析和识别模型

应用领域

电子电器行业，电镀行业、各种材质，塑胶，木头，玻璃等等物质中的有害元素检测
电镀行业检测