日本得乐SM-112测厚规
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仪表展览网>产品库>涂层测厚仪、膜厚仪
价格: 面议
公司名称:上海卡罗卡超仪器有限公司/卡罗卡超香港有限公司
地:上海闵行
发布时间:2009-11-28
上海卡罗卡超仪器有限公司/卡罗卡超香港有限公司
产品简介
品牌:日本得乐TECLOCK SM-112测厚规 品牌:TECLOCK(日本得乐) 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。 测量范围:0-10mm 最小读数:0.01mm 测量深度:26mm
产品详情

日本得乐SM-112测厚规 详细参数

日本得乐SM-112测厚规

零售价:面议 会员价:面议 品牌:日本得乐TECLOCK
 

日本得乐SM-112测厚规

品牌:日本得乐TECLOCK

SM-112测厚规 
 
品牌:TECLOCK(日本得乐)

用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。

测量范围:0-10mm

最小读数:0.01mm

测量深度:26mm


产 品 介 绍  
 
订购编号:20705

原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

技术参数:

指式方式:指针式

测量范围:0-10mm

最小读数:0.01mm

测量深度:26mm

体积大小:(W*D*H)87*23*105mm

重量:150g

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