N7788B/N7788BD 光元器件分析仪

回收N7788B/安捷伦N7788BD光元器件分析仪

N7788B 光元器件分析仪
N7788BD 光元器件分析仪

深圳市鸿瑞科电子仪器有限公司
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N7788B 光元器件分析仪

光元器件分析仪结合了偏振控制和偏振计，用于测量光元器件的偏振模色散（PMD）或差分群延迟（DGD）、PDL 和 IL。

主要特性与技术指标
主要优势
·通过单次扫描实现*高精度： 无需通过多次扫描计算平均值
·高测量速度
·10 秒之内即可完成 C/L 频带中的完整测量（无需等待多个平均值）
·稳定性不受光纤移动/振动和漂移的影响
描述
安捷伦制定了使用 N7788B 元器件分析仪进行元器件测量的限制， 其专有技术可与有名的琼斯矩阵本征法（JME）相媲美，琼斯矩阵本征法是测量光器件的偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）的标准方法。

N7788BD

N7788BD 光元器件分析仪

光元器件分析仪结合了偏振控制和偏振计，用于测量光元器件的偏振模色散（PMD）或差分群延迟（DGD）、PDL 和 IL。 N7788BD 具有内置的触摸屏 PC。

描述
Agilent Technologies pushes the limits of component measurements with the N7788BD Component Analyzer. Its proprietary technology is comparable with the well-known Jones-Matrix-Eigenanalysis (JME) which is the standard method for measuring Polarization Mode Dispersion (PMD) or differential group delay (DGD) of optical devices.

Agilent’s new single scan technology offers a range of advantages to test a complete set of parameters:

·DGD/ PMD
·PDL
·Power / Loss
·TE / TM-Loss
·2nd-order PMD
·Principal States of Polarization (PSPs)
·Jones and Mueller Matrices

公司还回收以下仪器，诚信回收：

测量接收机 R&S FSMR
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