公司名称:先锋科技(香港)股份有限公司 所在地:北京海淀 发布时间:2023-08-29 联系人:王超 联系电话:13810146393 先锋科技(香港)股份有限公司 产品简介 反射式膜厚量测仪对应所有基板上多层膜测量的光干涉膜厚仪。实绩很多。 高精度,高感度从薄膜到厚膜的广范围多层膜分析 产品详情 可对应所有基板上多层膜测量的光干涉膜厚仪。实绩很多。 高精度,高感度从薄膜到厚膜的广范围多层膜分析 反射式膜厚量测仪的产品特点 对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。 利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm 利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜厚,光学常数(n:折射率,k:消光系数)等薄膜特性。 利用背面反射补正,对应透明基板 可测量微小光斑(*小3μm)的分光光谱 可对应大型样品 光学系图 式样 样品尺寸 200mm*200mm*7mm(厚度) 测量膜厚范围 1nm-1mm 测量波长范围 190nm~1600nm 可测量层膜数 *大50层 传感器 电子冷却型光电二极管配列 电子冷却型CCDarea image sensor 测量项目 多层膜解析 光学常数解析(n:折射率k:消光系数) 绝对反射率 测量实例 商铺其他产品 联系商家 立即询价 发布询价单 询价产品:反射式膜厚量测仪 大塚电子 询价数量: /个 联系人: 联系电话:
可对应所有基板上多层膜测量的光干涉膜厚仪。实绩很多。 高精度,高感度从薄膜到厚膜的广范围多层膜分析 反射式膜厚量测仪的产品特点 对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。 利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm 利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜厚,光学常数(n:折射率,k:消光系数)等薄膜特性。 利用背面反射补正,对应透明基板 可测量微小光斑(*小3μm)的分光光谱 可对应大型样品 光学系图 式样 样品尺寸 200mm*200mm*7mm(厚度) 测量膜厚范围 1nm-1mm 测量波长范围 190nm~1600nm 可测量层膜数 *大50层 传感器 电子冷却型光电二极管配列 电子冷却型CCDarea image sensor 测量项目 多层膜解析 光学常数解析(n:折射率k:消光系数) 绝对反射率 测量实例