CMOS平板探测器-1207

CMOS X射线相机由单个半导体硅片制成，可直接探测可见光或配合闪烁晶体用于探测X光和其它高能辐射。针对不同应用，可配备不同厚度Gadox或针状CsI闪烁体，是医学诊断，工业检测，科学成像的理想解决方案，标准能量测试范围为不超过220KV，根据客户要求，能量可到400KV，采用Camera Link接口，全分辨率下*高可到65帧/秒

有效面积(mm)	114.9x64.6
分辨率	1536x864
像素尺寸（µm）	74.8/149.6/299.2；依赖于不同的binning
MTF@6lp/mm	大于20%；(150µm HR CsI without binning）
DQE	~0.7 at 0.5lp/mm (28 kV, W / Al)
Binning	1 x 1, 1 x 2, 2 x 2, 1 x 4, 2 x 4, 4 x 4
工作模式	提供低噪声及高动态范围两种
动态范围	6400-2400；依赖于不同的工作模式及binning
帧速	32-191；依赖于不同的binning及数据接口
ADC分辨率	14位
计算机接口	Camera Link或千兆以太网
外形尺寸(mm)	241 x 150 x 42
重量(kg)	1.9