该仪器主要用于对粉末、固体和类似糊状材料定性进行物相分析，该设备体积小、重量轻、耗电少，能快速对样品进行校准和测试；依据德拜-谢乐几何原理，可获得高精度测试结果，衍射峰位置的测量精度±0.02o；用计算机控制，在windows窗口下可直接看到数据的采集和及时处理。广泛应用于从事地质、海洋、核反应站等研究的实验室，同时也应用于小型工业控制实验室和高等院校的教育实验室。

无机械误差的德拜-谢乐几何学,带有可连接ICDD数据库的软件的计算机控制http://www.mticrystal.com/XRD.html

1、电源：单相220±20V(AC),50/60Hz, X-ray
2、管功率：10 W (25kV, 0.4mA),X-ray
3、光斑尺寸：0.2 x 2mm
4、阳极靶材：Cu,X-ray
5、探测器的曲率半径：114mm
6、探测的2θ范围：0-55度
7、角度的分辨率：0.14度
8、最大计数量：10000次/秒
9、测量的角度范围(2θ)：16度-121度
10、衍射峰位置的测量精度：±0.02度

体积：40 x 56 x 30cm

重量：26kg