MINITEST720涂层测厚仪 MINITEST 720

MINITEST 720涂层测厚仪

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪

-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精确性

-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错

SIDSP技术-全球最新技术，智能数字化的涂层测厚探头

模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势

什么是SIDSP？

SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界领先的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。

SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界顶尖技术生产。

SIDSP工作原理？

跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您精确的涂层厚度值。此项尖端的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。

SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。

探头特性	F1.5，N0.7，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
	F	N	F	F	N	F
测量范围	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范围	小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用		粗糙表面	标准探头，使用广泛		厚涂层
测量原理	磁感应	电涡流	磁感应	磁感应	电涡流	磁感应
信号处理	探头内部32位信号处理（SIDSP）
精确度	±（1μm+0.75%读值）		±（1.5μm+0.75%读值）			±（5μm+0.75%读值）
重复性	±（0.5μm+0.5%读值）		±（0.8μm+0.5%读值）			±（2.5μm+0.5%读值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
最小曲率半径（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
最小曲率半径（凹，外置探头）	7.5mm		10mm			25mm
最小曲率半径（凹，内置探头）	30mm		30mm			30mm
最小测量面积	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
最小基体厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
连续模式下测量速	每秒20个读数
单值模式下最大测量速度	每分钟70个读数

主机

型号特性	MINITEST 720	MINITEST 730		MINITEST 740
探头类型	内置	外置		内置外置可换
数据记忆组数	10	10		100
存储数据量	最多10,000个	最多10,000个		最多100,000个
统计值	读值个数，最小值，最大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置）
校准程序符合国际标准和规范	ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准
校准模式	出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值
极限值监控	声、光报警提示超过极限
测量单位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作温度	-10℃-60℃
存放温度	-20℃-70℃
数据接口	IrDA 1.0（红外接口）
电源	2节AA电池
标准	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
体积	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	约175g	约210g	约175g（内置）/230g（外置）