X-RAY型金属镀层测厚仪

X-RAY型金属镀层测厚仪是对导磁性基体上金属镀层厚度进行非破坏性厚度测量的仪器。它既可测平面导磁性基体上的金属镀层的厚度，也可测各类异型面导磁性基体上的金属镀层的厚度。该仪器体积小、操作方便、可靠性好，适应于各种使用环境。

功能特点：

微点小探头点测范围小于1mm，完美解决了凹凸曲面、细薄零件测量难题；并能在瞬间，完成对镀层连续的测量扫描，测量精度已经达到X荧光同一等级；还由于采用超高频，使得钢铁基体的成分差异造成的零位偏差大大缩小,特别适合于五金、汽配、螺丝行业之精准测量（如碳钢是镀锌）。

适用行业： 机械和汽车转轴硬铬镀层测量，电子行业金、银贵金属镀层测量，细、小、薄物件和印刷线路板镀层测量，普通金属零件镀锌，镍，钛等单一镀层测量。

主要技术指标：

测量范围：   0－30µm

最小曲率：    无限制

最小测量面积： φ1mm

最小基本厚度： 0.5µm

显示单位：     0.1µm

电源：         180～240VAC，50HZ。

仪器尺寸：     280×240×100 mm