Model 3710 太阳能芯片检测系统
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仪表展览网>产品库> 光伏+逆变器测试及自动化解决方案
价格: 面议
产品型号:Model 3710
品牌:2521661
公司名称:深圳市柯普盛电子科技有限公司
地:广东深圳
发布时间:2011-01-13
深圳市柯普盛电子科技有限公司
产品简介
主 要 特 色: 适用于 5 吋及 6 吋太阳能芯片 高产能及 0.2% 以下之低破片率 2D 几何计算检测 芯片表面瑕疵检测 微裂隙检测 锯痕检测 Resistively/Thickness 测试 寿命测试 简易的疑难解答程序 进料 : 堆栈盒 / 卡式盒 分类 : 堆栈盒 / 卡式盒
产品详情
主 要 特 色:
适用于 5 吋及 6 吋太阳能芯片
高产能及 0.2% 以下之低破片率
2D 几何计算检测
芯片表面瑕疵检测
微裂隙检测
锯痕检测
Resistively/Thickness 测试
寿命测试
简易的疑难解答程序
进料 : 堆栈盒 / 卡式盒
分类 : 堆栈盒 / 卡式盒

Chroma 3710整合了2D 几何计算、表面瑕疵、微裂隙检查、锯痕检查等光学检测功能,并依客户需求制定Thickness检查及Lifetime测试,是一套可针对使用者全方位客制化的太阳能晶片检测系统。具有高产能及低破片率的优点,非常适合用于进料端,晶片可依使用者定义自动分类到堆叠盒或卡式盒内,独特的自动转换技术可以大量节省人工转换所需的系统待转时间,并应用高科技化的技术,确保太阳能晶片输送系统中重要关键之一的低破片率
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