·测试种类：常用TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU、及可编程器件等
·被测芯片脚数：40脚以下
·测试速度：500KHz/Pin
·最大输出电流：每引脚100mA
·测试方法：小规模集成电路（SST）、中规模集成电路（MSI），与标准库比较大规模集成电路（LSI），与自学习库比较
·提供自建测试的编程语言
·提供专用电路板元件测试库（由使用者提出）
·显示方式：图形显示（时序波形）、状态显示
·V-I特征曲线测试