光谱分析仪 FTB-400

强大的DWDM技术规格：
极好的ORR、分辨率带宽、波长范围和动态范围，FTB-5240 光谱分析仪使用灵活，功能强大。业界极好的ORR
和高分辨率，FTB-5240B为下一代超密度WDM做好了准备。
使用方便：
一按钮式操作。通过简单、直观的触摸屏接口可以访问各种自动功能。图形用户接口使您轻松访问菜单和功能。
耐震便携式结构：
EXFO 光谱仪安装在具有坚固、轻巧的镁壳和橡胶缓冲的FTB-400平台中，可以抵抗来自户外或实验台上发生的各种撞击和跌落。
最佳ORR选项：由于业界最好的ORR，新的FTB-5240B选项为OSNR量提供了无与伦比的精确性：在0.1nm时可达40dBc，在0.2nm时可达50dBc，在在0.4nm时可达55dBc。
内部校准：
新的FTB-5240B具有一个内置参考光源，在C+L波段内，该参考光源可以维护波长不确定度，使其在±30pm范围内。
外部校准：
在测试之前使用外部光源重新校准OSA，使C+L波段内的波长不确定度维持在±15pm范围内。

光谱测量		FTB-5240	FTB-5240B
波长范围（nm）		1250至1650	1250至1650
分辨率带宽FWHM2,3（nm）		0.065	0.033
波长不确定度3,8（nm）		±0.05	±0.03
		±0.0154	±0.0154
波长可重复性5（nm）		±0.003	±0.003
波长线形度3（nm）	典型值	±0.01	±0.01
振幅测量
动态范围3（dBm）		186至-757	186至-757
功率不确定度9（dB）		±0.4	±0.4
光衰减率3（dBc）
在12.5GHz（±0.1nm）时	典型值		40
	最小值
在25GHz（±0.2nm）时	典型值	40	50
	最小值	35	48
在50GHz（±0.4nm）时	典型值	50	55
	最小值	45	50
在1550nm时的PDL（dB）	典型值	±0.07	±0.07
	最小值	±0.15	±0.15
扫描时间（s）		＜1.5(35nm跨距、全解析度，多峰分析）
ORL（dB）		>35	>35

注释：
1．除非另有说明，所有规格都是在温度为23℃±2℃，使用FC/UPC连接器并经过预热的典型值。
2．在最大值的一半时为全宽度，典型值。
3．在C和L波段内。
4．用户校准后，在相同测试期间内，距离每个校准点在10nm内。
5．超过1分钟实模式。
6．典型值。线性度可能被降级至高于+15dBm。
7．平均值。
8．可能需要用户校准。
9．在1550nm、-10dBm输入时。