SOC720SW短波红外成像光谱仪
900~1700nm
成像系统
SOC720SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器,光谱范围为900nm~1700nm。
SOC720SW具有高光谱分辨率 (6.25 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W),使得SOC720SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里,获得的是最高质量数据。
使用简单和实时处理
SOC720SW是一个完整的系统,开箱之后即可使用。
系统采用SOC的HyperSpect™ 操作软件和HSAnalysis™校准和分析工具进行标定和使用前设置。
数据以开放的BIL二进制格式保存,可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件。
可选的SOC MIDIS™处理器以最优的电脑速度快速执行光谱处理,克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈。
MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分,使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题。
配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统,SOC-720SW通过高速Camera-Link接口可以记录900nm到1700nm光谱范围内、6.25nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W(1550nm)。
SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据,可以很容易的用第三方分析软件打开,如ENVI软件。无须数据格式转换。
技术参数:
光谱范围: |
900-1700 nm |
光谱分辨率: |
6.25 nm |
光谱通道: |
128 |
光谱失真: |
<1.5 microns (smile) |
数字光圈: |
F/2.4 |
TFOV/IFOV (35MM): |
10°/0.015625° |
分辨率(像素): |
640x640 (nominal) |
LINE RATE: |
30 Spatial Lines/Second |
CUBE RATE: |
20 Seconds/Cube |
数字分辨率: |
14-bit |
三脚架: |
3/8”-16 |
计算机接口: |
Cameral-Link |
扫描: |
内置 |
供电: |
AC/12DV |
重量: |
30 lbs. |
尺寸: |
7”x14”x22” |
应用领域:
机械视觉
电子学和塑胶
晶片检查
农业品质
化学过程控制
农业领域
精准农业
土地分类
水份胁迫
作物健康 |
温度记录
火点监测
玻璃检测
金属纯度
军事
ISR
边境安全
导弹跟踪
医学领域
血糖分析
X线断层摄影术
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