Sherlock SF6气体红外成像光谱仪
 
    

美国GIT公司的 Sherlock SF6 气体红外成像光谱仪是一个小型的手持电池供电的成像光谱仪用于气体泄漏成像，浓度计算和分析。Sherlock SF6 红外成像光谱仪经过实验室测试，可用于检测泄漏率低于1 毫升/分或7 lbs/ 年SF6 气体的泄漏。
GIT Sherlock SF6 红外成像光谱仪使用被动探测技术，而不像其他产品，如使用CO2 激光器实现气体成像。因此Sherlock 可在以天空背景下检测气体的泄漏，而无需使用激光系统时必要的反射面。使用Sherlock 时，操作者可以站在远离可能泄漏高电压设备的安全距离内检测，在不需要中断工厂运行的情况下找到泄漏位置。
GIT Sherlock SF6 红外成像光谱仪包含一个显示器用于观察设备和气体泄漏，一个SF6可调谐的红外检测器，一个气体分析光谱仪，可对检测视频进行剪辑记录视频图像采集器，一个可通过网络端口与计算机网络连接的嵌入式计算机。嵌入式数字视频剪辑记录器和档案命名能力方便用户生成文件和报告，无需使用其他产品对视频进行编辑。
GIT Sherlock SF6 红外成像光谱仪可应用于检测电力工业高压电力设备，如GIS、开关柜和SF6 断路器的气体泄漏。 Sherlock SF6 红外成像检测仪建立在IMSS(专利号U. S. Patent numbers: 5,479,258; 5,867,264; 6,680,778)光谱成像技术的基础上，IMSS已经被美国国防部认证并应用于各项研究中；现在将其引入了商用及民用领域，用于气体成像、分析以及量化等方面的研究。
GIT红外气体成像产品广泛用于世界各地的石油、气体、化学、制造和能源工业的气体成像、分析定量，GIT是Pacific Advanced Technology (PAT)的子公司， PAT成立于1988年，专业致力于为国防和国土安全研究和开发高光谱红外图像传感系统，最近PAT研究和开发爆炸装置包括汽车炸弹、路边炸弹和自杀性炸弹的检测设备，此外，PAT研究和开发用于化学、生化武器检测的设备。
 
Sherlock SF6机械特性
    ♦　重量：不含电池12 磅，含电池17 磅
    ♦　尺寸：12(L)×6(W) ×8(H) 英寸
    ♦　电源：12V电池供电或AC交流源 
光学特性
    ♦　数字聚焦镜头嵌入系统
    ♦　光谱范围：10.5 微米
    ♦　光圈：8微米处f/2.38
    ♦　焦距长度： 8微米处70 mm
    ♦　即时视野：0.4 mrad
    ♦　视野： 7.3°× 5.5°
    ♦　空间分辨率：320 x 240像素
    ♦　可变集成：10 个离散设置
    ♦　最小探测泄漏率 (<35mK NEDT)： 1 mL/min (7 lbs/year ) 
仪器配置
    1. 内置式软件
    2. 通讯接口：以太网, RS232, NTSC, S-Video, USB
    3. 操作界面：允许单手操作按钮
    4. LCD视频显示(640 x 480像素)
    5. 遮阳板
    6. 内置数字视频剪辑记录器
    7. 标准12V电池
    8. 电池充电器/AC电源
    9. 运输箱
    10. 相关电缆
    11. 用于图像及气体量化处理的HyPAT 软件
    12. 现场应用培训 
可选配件
    ♦　三角架1/4-20螺纹接口
    ♦　EasyRig充气被背带（减轻背负负担以便于长时间现场应用）
    ♦　备用电池
    ♦　小型便携式VCR 
GIT公司及IMSS技术简介
    美国太平洋高技术公司(Pacific Advanced Technology，PAT)是一家致力于红外光电技术研究的高科技公司，公司创建者是Michele Hinnrichs女士，她在美国空军的小型企业创新研究(SBIR，Small Business Innovative Research)资金支持下，开发了多光谱成像检测(IMSS, Image Multi-Spectral Sensing)技术，并在US Navy、US Army、BMDO和Department of Energy (DoE)等研究合同支持下，将该技术用于导弹预警、红外搜索和跟踪、环境监测等领域。PAT授权其子公司Gas Imaging Technology (GIT)将该技术在环境气体监测领域商业化。
    Image Multi-Spectral Sensing ( IMSS）多光谱成像技术是美国PAT公司的专利技术，专利号U. S. Patent numbers: 5,479,258; 5,867,264; 6,680,778) ，IMSS已经被美国国防部认证并应用于各项研究中；该技术光谱测量范围覆盖可见光(Visible)、近红外(NIR)、中红外(MWIR)和远红外(LWIR)，目前该技术光谱分辨率大为提高，从多光谱发展到高光谱和超光谱。