3D雷射扫描量测显微镜 OLS3000

3D雷射扫描量测显微镜

特色：
透过雷射光断面扫描得到清晰的立体图像

应用領域：
IC Pattern /电极Pod / Bump /FPP /微机電…等微細观察及立体量測…(more)

12”晶元全行程顯微量測平台

Fast and high-precision measurement in 3-axis of12 inch wafer with Motorized focusing as standard. All area of12inch wafer can be inspected and measured on rotatable stage withhigh performance of UIS optical system.…(more)

12"晶元传送显微检查机

AL110-12 Series
300mm Wafer Manual Inspection System
特色：
1. 操作简易、安全有效率
2. FOSB/FOUP/OPEN介面可供选择
3. 特殊目檢照明系統，可依观察需要做選擇，提高辨识力…(more)

实体显微镜 SZX10/SZX16

全机防静电功能，丰富的組件，可依观察需要选配…(more)

深紫外检查显微镜U-UVF248