Bowman膜厚测试仪是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。至于需要测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单。

Bowman膜厚测试仪采用最新数学FP法，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等
　　
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