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美国电镀膜厚测试仪是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量.
美国电镀膜厚测试仪测量更小、更快、更薄MicronX 比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的镀层和更加快速。这是由包括准直器、探测器、信息处理器和计算机等部件在内的一整套专利系统完成的。
美国电镀膜厚测试仪:
(1)无损分析:无需样品制备
(2)经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
(3)操作简单,只需要简单的培训
(4)分析只需三步骤
(5)杰出的分析准确性和精确性
(6)在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
(7)使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。
如果您有什么问题或要求,请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快!联系人:舒翠 136 0256 8074 QQ:2735820760