bowman x荧光膜厚测试仪

bowman x荧光膜厚测试仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
可应用于在线膜厚测量,测氧化物,SiNx,感光保护膜和半导体膜.也可以用来测量镀在钢,铝,铜,陶瓷和塑料等上的粗糙膜层. 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度.光干涉法是一种无损,精确且快速的光学薄膜厚度测量技术,薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
bowman x荧光膜厚测试仪性能特点
+ 高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平。
+ 最新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。
+ SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
+ 专利产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。
+ 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。
+ 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。
+ 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性。
+ 高信噪比的电子线路单元。
+ 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐。
+ 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
+ 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
+ 内置高清晰摄像头。
+ 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然。
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