电镀膜厚测试仪 BA 100

电镀膜厚测试仪2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应国际贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到国外,而大部分企业部门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,国家没有一个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于一种混乱的状态。
因此2005-2007年间经过购置相关测量设备和研制标准器及测量方法的研究，中国计量科学研究院首先建立了基于x射线荧光分析方法的镀层膜厚标准装置，用于镀层膜厚量值得测量和校准，为镀层膜厚量值的溯源提供了一种准确有效的技术方法。
电镀膜厚测试仪1.用先进的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大。
2.可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上。
3.拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
4.能够检测各种大小的样品，满足镀层厚度测量和材料分析。
5.新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度。
6.多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台。
7.满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等。
8.符合ISO3487和ASTM B568检测方法
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