独特优势

l         能够分析AI、Mg、Si

l         可编辑用户数据库

l         测量元素范围可低至Mg(12)

l         微软实时系统软件（MS CE）提供图谱分析

l         高灵敏度，可检测低至PPM的微量元素

l         PXRF软件还具有定性和定量分析功能，控制光管的电压和电流，使之适用于大范围的无素测量。

l         NASA/Bruker共有专利-无真空，无氦气消耗，精度可靠。
 

技术参数：

重量：1.5kg

尺寸：30cm*10cm*28cm

分析元素：Ti-U加AI、Mg、Si

激发源：X射线管，Ag靶

语言：12种语言（包括中文，用户自选）

检测器：硅漂移检测器（SDD），检测速度快，分辨率高，145eV，计数率：100Keps

操作系统：HP掌上电脑：Windows Mobile 5.0

Bruker专用软件

冷却系统：Peltier恒温冷却系统，保证仪器的使用寿命和精度

电源：可交、直流供电，充电锂电池，可连续工作6-8小时

电池充电器：交流交电器，110/220V，50/60HZ

显示器：240*320彩显；65536像素；背景光可调，触摸屏

测量模式：牌号识别，定量分析，显示测量谱线，合格与否判定

数据传输：USB 存储卡，蓝牙

数据存储：主机：512MB

          存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个牌号和测量数据。

高温测量：热表面适配器，可测量500℃高温样品

安全：密码保护，设有多级安全锁

运输：减震、抗压、防水、密封仪器箱

      仪器箱颜色：银色和橙色（可选）

质保期：2年

环境范围：-10℃—50℃

应用领域：

1.     石油化工 2.锅炉压力容器 3.航空航天 4.机械制造与加工 5.军工 6.金属回收与分类

7. 钢铁  8.贵金属 9.电站电厂 10.玩具 11、矿石  12.环保质量 13、土壤 14、其它