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CMI900测厚仪为牛津推出的一款非常实用的分析多层镀层厚度·合金牌号及成份·镀液的电子测厚仪。
用 途:镀层测厚仪CMI900用于分析多层镀层厚度成 ·合金牌号及成份·镀液
CMI900特 征:
1、X射线荧光镀层厚度及材料组成测量
2、工业质量控制
3、电子:可焊性 电气连接性 表面处理
4、金属表面处理:耐蚀性 耐磨性/耐热性 装饰性处理
5、合成分类:成 分鉴定与合金牌号