可控硅测试仪生产厂家

漏电参数： IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、
IGESF、IGESR、IEBO、 IGSSF、 LGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
击穿参数： BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)
BVDSS、 VD、 BVCBO、、 VDRM、 VRRM、 VBB
BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ
BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
增益参数： hFE、CTR、gFS、VGSTH、VGETH
导通参数: VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)
VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDSS、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、
VO(Regulator)、IIN(Regulator)
关断参数: VGSOFF
触发参数: IGT、VGT
保持参数: IH、IH+、IH-
锁定参数： IL、IL+、IL-
混合参数: rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
网址：www.xaybdz.com
间接参数: IL
西安谊邦电子引进美国的先进半导体测试技术，在此基础上研制生产了YB6000系列半导体分立器件测试系统，该测试系统拥有功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点，各项技术指标均达到国际领先水平。其雄厚的技术实力，多年的开发产品经验和独特严谨的设计方案使谊邦电子YB系列测试系统性能更加超群，品质更为可靠稳定。谊邦电子研发技术涉及高端集成电路测试、半导体分立器件测试和各种客户产品测试等领域。产品主要应用于军工、汽车、飞机、船舶制造、能源等行业领域。
西安谊邦凭借较强的技术实力和完善的科学管理，能够给用户提供完善的售前售后技术支持。科技创新、服务无限，是我们工作的宗旨。