一、设备名称: XT-50冲击试样投影仪
XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便,对比直观。
二、工作原理:
本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体,再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。
根据需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。
三、主要参数:
1.投影屏直径: 180mm
2.工作台尺寸:
方工作台尺寸: 110×125mm
圆工作台直径: 90mm
工作台玻璃直径: 70mm
3.工作台行程:
纵向: ±10mm
横向: ±10mm
升降: ±12mm(无刻度)
4.工作台转动范围: 0~360°(无刻度)
5.仪器放大倍率: 50X
物镜放大倍率: 2.5X
投影物镜放大倍率:20X
6.光源(卤钨灯): 12V 100W
7.电源: 220V 50Hz
8.外形尺寸: 515×224×603mm(长×宽×高)
9.重量: 约18Kg
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