CSI原子力显微镜的详细介绍

多种工作模式

接触模式

轻敲模式

CAFM（导电AFM）

PFM（压电力）

MFM/EFM（磁力/静电力）

FMM（力调制）

HD-KFM（开尔文力）

ResiScope（扩散电阻）

STM

最佳的电特性测量模块

HD-KFM :

市场上最高的分辨率和灵敏度

更好的算法，更好的锁相灵敏度

易用使用，自动调用智能算法

ResiScope :

10个数量级测量范围——从100Ω~1TΩ之间（竞争者最多只覆盖了7个数量级）

较低的电流流经探针/样品（不会局部氧化，不会因为高电流损害探针/样品）

同时兼容AC模式成像和EFM/MFM 模式或者HD-KFM 模式，不用做任何变动而丢失样品的位置！

 Soft-ResiScope :

仍然有10个数量级的测量范围，更适合软性样品成像和电阻/电流测量。

适用于多种环境的测量

温度控制：

最高可达200°

对于压电器件可以进行更稳定的加热分离（不漂移）

与大气控制、液体模式和所有电测量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容

大气控制（气体和湿度）：

湿度控制不会损害光电探测器和激光器

光电探测器和激光器可以正常调节对齐

容易和快速设置

与所有电测量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容

液体测量：

压电保护

激光容易对准（可以利用顶部CCD在空气中对准激光）

非常稳定的轻敲模式的使用

高品质的测量

平移式压电扫描器：

三轴独立

低噪音，具有原子级分辨率

最大100µm扫描，Z方向9µm

 智能化AFM

低噪声低功耗相干激光器

低噪音控制器（低电压驱动压电扫描器）

24位DAC控制

大范围扫描，高分辨率，且无需更换扫描器。

易于使用

自动调谐集成锁相

自动设置的电子系统

顶部和侧面CCD视图

直观的软件和预先配置的AFM模式

主要的参数指标

1、XY扫描分辨率： 0.06nm

2、Z扫描分辨率： 0.006nm

3、扫描范围：XY向100um，Z向9um

4、超低噪音高压：典型值：＜0.01 mV RMS

5、数据采样点：高达4096

6、DAC输出：6个D/A转换器-24位

7、ADC输入：8个A/D转换器-16位

8、集成锁相：高达6MHz

9、控制器电源：AC 100~240 V,47~63 Hz

10、计算机接口：USB2.0/3.0

11、运行环境：运行于Windows XP/7/8/10操作系统

CSI原子力显微镜应用领域

金属，纳米材料，高分子聚合物，薄膜&涂层，DNA，蛋白质，半导体，光电材料，

太阳能电池，蓄电池，电化学领域，磁性材料，压电领域，分子电子或组织，导电材料表面表征…

CSI原子力显微镜应用实例

C36分子    扫描范围250nm                       DNA    扫描范围1µm

高分子聚合物 (PDES)    扫描范围12µm

石墨烯   扫描范围10µm

磁性三角形结构   扫描范围4.5µm

人造旋转冰   扫描范围6.5µm

PFM模式        PZT样品   扫描范围10µm

ResiScope模式       半导体掺杂剂表征    扫描范围4µm