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SXJS-IV型智能化介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印,使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强等优点。SXJS-IV体积小、重量轻,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。
SXJS-IV型智能化介质损耗测试仪技术指标
1、环境温度:0~40℃(液晶屏应避免长时日照)
2、相对湿度:30%~70%
3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±1Hz
4、外形尺寸:长×宽×高=4900mm×300mm×390mm
5、重量:约18kg
6、输出功率:1KVA
7、显示分辨率:4位
8、测量范围:
介质损耗(tgδ):0-50%
电容容量(Cx)和加载电压:
2.5KV档:≤300nF(300000pF)
3KV档:≤200nF(200000pF)
5KV档:≤ 76nF( 76000pF)
7.5KV档:≤ 34nF( 34000pF)
10 KV档:≤ 20nF( 20000pF)
9、基本测量误差:
介质损耗(tgδ):1%±0.07%(加载电流20μA~500mA)正接
介质损耗(tgδ):2%±0.09%(加载电流 5μA~ 20mA)反接
电容容量( Cx ):1.5%±1.5pF
SXJS-IV型智能化介质损耗测试仪结构
仪器为升压与测量一体化结构,输出电压2.5KV~10KV五档可调,以适应各种需要,在测量对无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似,但比其方便。
SXJS-IV型智能化介质损耗测试仪工作原理
仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路,如图三所示。
标准回路由内置高稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并由之算出被测试品的电容容值(Cx)和其介质损耗(tg)。
数据采集电路全部采用高稳定度器件,采集板和采集计算机被铁盒完全浮空屏蔽,仪器的外壳接地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,故测量结果稳定、精确、可靠。
由图三可见,仪器高压变压器的高压侧和测量线路都是浮地的,用户可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接线方式。如采用“正接线法"进行测量时,可将“E"点接地;而当采用“反接线法"进行测量时,可将“UH"点接地,而将E点浮空。
图中除测试品Cx外,其余为本仪器。细线框内部分对仪器外壳能承受15KV工频高压5分钟,额定耐压10KV。仪器内附标准电容CN,名义值为50PF,tgδ≤0.0001,耐压10KV。高压变压器,额定输出功率为1KVA。
★“E"点为仪器的内屏蔽与测量电缆的屏蔽层相连,不是大地,与仪器的外壳也不连通!!!
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