37DL PLUS双晶片测量方式：从激励脉冲到**个回波之间的精准延时

37DL PLUS透过涂层测量：利用一次背反射回波（使用D7906-SM 和 D7908 探头），测量涂层厚度和真实金属厚度。

37D LPLUS透过漆层回波对回波：消除漆层或涂层，在两个连续背反射回波之间的时间间隔。

37DL PLUS单晶片测量模式：
模式1：测量激励脉冲和**个背反射回波之间的时间间隔。
模式2：测量在激励脉冲之后的**个界面回波与**个背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水浸式探头。
模式3：测量在激励脉冲之后，位于**个界面回波之后的相邻背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水

浸式探头
氧化皮/沉积物测量功能（选择项）：测量金属基底厚度和管子内壁氧化皮沉积物的厚度。

氧化皮沉积物的厚度范围：
M2017: 0.010 - 0.050英寸 (0.25 - 1.25 毫米)
M2091: 0.006 - 0.050英寸 (0.15 - 1.25 毫米)

厚度范围：: 0.003 - 25.000 英寸 (0.080 - 635.00毫米), 取决于材料、探头、表面条件、温度和设置选择。

材料速度速率范围: 0.020 - 0.551 英寸/微秒 (0.508 - 13.998 毫米/微秒)

显示精度任选： 

电池： 6 伏镍镉可充电电池组，或现场可替换的碱性“AA”电池。

电池寿命：额定25小时（正常测量模式，背光关闭）

快速充电器： 2小时快速充电器，使用通用电压

探头频率范围:　2-30 兆赫 (-3 dB)

工作温度:　-10°C 到 +50°C (+14° 到 122°F)

键盘： 密封、触摸式、声音反馈的彩色键盘。

机箱: 带有密封连接器的防水, 接口密封的聚碳酸脂材料箱子。符合IP-65标准。

液晶显示器： 带有背光照明、对比度面板可调。 显示区域　4.0 x 3.39 英寸 (102 x 86 毫米)

危险区域操作：根据MIL-STD-810E 规定，方法 511.3，步骤1 。

整流：射频波、正半波、负半波，以及全波整流。

显示范围和延迟控制

公制、英制单位

尺寸：9.375 x 5.45 x 1.5英寸 (238 x 138 x 38 毫米)

重量： 2.1磅(0.95公斤)

内置数据存储器

通过RS-232串口，37DL PLUS可识别、存储、调用、清 除以及传输厚度读数、波形图像和仪器设置信息。波特率、字节长度、停止位以及奇偶位可以在面板上调节。

*大存储量：60,000 厚度读数或4,500 个带厚度的波形。

文件名、ID号和注释：32位字符文件名，20位字符数字字母位置码，每个位置码代表4种注释。

文件结构： 7 个标准文件结构或用户针对应用定义的文件结构。

报告： 在仪器上带有概要统计的报告、*小/*大值及其位置，文本比较以及报警报告。屏幕上显示当前读数和先前读数的比较。

奥林巴斯超声波测厚仪37DL PLUS

标准配置

带有波形的37DL PLUS型数字超声厚度仪， 50-60 Hz交流或电池供电
 D790-SM探头，5.0兆赫, 0.434英寸 (11毫米) 端部直径，温度范围 -5° 到932°F
 充电器/AC (100， 115， 230 VAC)
 内置数据存储器
 WIN37DL PLUS界面程序
 试块，耦合剂
 RS-232 I电缆
 带脖套的保护袋
 操作手册

奥林巴斯超声波测厚仪37DL PLUS

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