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应用
• 高分辨率缺陷探测,如:微孔隙检测或微裂纹检测。
• 表面断裂或不平整性的C扫描成像。
• 可测量薄如0.010毫米(0.0004英寸)材料的厚度*。
• 可对陶瓷及上等工程材料进行检测。
• 可对材料进行分析。
*厚度范围取决于材料、探头、表面条件、温度及所选的的设置。
高频接触式
• 使用直接接触检测法时,利用长久熔融石英延迟块可进行缺陷评价、材料分析或厚度测量。
• 3种不同延迟块的配置(BA、BB、BC)可形成多种延迟块回波的组合。
• 其标准连接器类型为直角Microdot(RM)。
奥林巴斯高频接触式探头
型号规格:
频率 |
标称
晶片尺寸 |
延迟 |
探头
工件编号 |
|
MHz |
英寸 |
毫米 |
微秒 |
|
20 |
0.25 |
6 |
4.25 |
V212-BA-RM |
0.25 |
6 |
4.25 |
V212-BB-RM |
|
0.25 |
6 |
2.5 |
V212-BC-RM |
|
30 |
0.25 |
6 |
4.25 |
V213-BA-RM |
0.25 |
6 |
4.25 |
V213-BB-RM |
|
0.25 |
6 |
2.5 |
V213-BC-RM |
|
50 |
0.25 |
6 |
4.25 |
V214-BA-RM |
0.25 |
6 |
4.25 |
V214-BB-RM |
|
0.25 |
6 |
2.5 |
V214-BC-RM |
|
0.125 |
3 |
4.25 |
V215-BA-RM |
|
0.125 |
3 |
4.25 |
V215-BB-RM |
|
0.125 |
3 |
2.5 |
V215-BC-RM |
|
75 |
0.25 |
6 |
2.5 |
V2022 (BC) |
0.125 |
3 |
2.5 |
V2025 (BC) |
|
100 |
0.125 |
3 |
4.25 |
V2054 (BA) |
0.125 |
3 |
2.5 |
V2012 (BC) |
|
125 |
0.125 |
3 |
2.5 |
V2062 |
- 询价产品:奥林巴斯高频接触式探头 V2022(BC)
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