日本日立X射线荧光镀层测厚仪FT110A

概要：

自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。

通过自动定位功能，只需把样品放在样品台上，便能在数秒内自动对准观察样品焦点，省略了以前手动逐次对焦的操作，大幅提高了测量效果。

 

型号名称：FT-110A

测量元素：原子序数22（Ti）~83（Bi）

检测器：比例计数管

X射线管：管电压：50kV    管电流：1mA

准直器：4种（Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm）

样品观察：CCD摄像头（可进行广域观察）

X-Ray Station：电脑、19英寸液晶显示器

膜厚测量软件：薄膜EP法、标准曲线法

测量功能：自动测量、中心搜索

定性功能：KL标记、比较表示

使用电源：220V/7.5A

日本日立X射线荧光镀层测厚仪FT110A

特长：

自动对焦功能 自动接近功能
   在样品台上放置各种高度的样品时，只要高低差在80mm范围内，日本日立X射线荧光镀层测厚仪FT110A 即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。

    ●自动对焦功能    简便的摄像头对焦

    ●自动接近功能    *适合位置的对焦

通过新 薄膜FP法提高测量精度

   实现微小光束的高灵敏度，通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外，针对检测器的特性开发了新的EP法，可进行无标样测量。日本日立X射线荧光镀层测厚仪FT110A 测量结果可一键生成报告书，简单方便。

    ●新 薄膜EP法    

      减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化

      无标样测量方法可进行*多5层的膜厚测量

    ●自动对焦功能和距离修正功能    

      凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量

    ●灵敏度提高

      镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2

    ●生成报告功能

      一键生成测量报告书

广域样品观察

日本日立X射线荧光镀层测厚仪FT110A 对测量平台（250mm*200mm）上放置的样品拍摄一张静态画面后，可在获取的广域观察图像上指定狭域的观察位置。由此，可大幅减少多数测量点位置的选取时间，以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。

●广域图像观察    轻松定位