日本KETT膜厚计 LZ-200J

日本KETT膜厚计 LZ-200J涂镀层测厚仪

本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。

日本KETT膜厚计 LZ-200J涂镀层测厚仪技术参数：

规格型号	LE-200J	LH-200J	LZ-200J
测定对象	磁性金属上非磁性涂镀层	非磁性金属上绝缘层	磁性金属上非磁性涂镀层非磁性金属上绝缘层
测定范围	0～1500um 或0～60.0mils	0～800um 或0～32.0mils	0～1500um 或0～60.0mils
测定精度	<50um±1um , >50um±2%
分辨率	<100um 0.1um , >100um 1um
功能统计	可设定上/下限数值，可分批统计大值、小值、平均值、标准差。数据可存储，可连接电脑，内置打印机、即时打印
计量单位	公制、英制可自由切换
显示方式	LCD液晶屏
操作面板	密封防水多功能数字键盘
随机附件	基体/校正标准片/电池/皮套/说明书/稳压电源/打印纸
电源	DV6V 5#碱性电池×6个（打印机另需4个），可接稳压电源
体积	175mm(W)×245(mmD)×31mm(H)
重量	1100g