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在已有分析能力强大的反射率-穿透率同时测量系统平台上,我们增加了散射率、临界入射角反射率的计算,从此无需建模即可对单层膜膜厚,光学常数n、k值进行测量!!多层膜的全面分析同样只需轻击鼠标即可轻松完成!
分析优势
PARTS符合行业领先标准,极小的占地空间、通用的USB接口,确保设备安装简单便捷。整机无任何运动件,除钨卤素灯外无需其他维护,确保设备高度可靠。全面、可靠的集成
得益于计算垂直(0°)入射和角度(70°)入射的反射率和穿透率,PARTS极大了提高了对高级薄膜应用场合(如:太阳能、OLEDs等行业)的分析能力。尤其,通过计算变量R0,R70,TO,我们可以简单便捷的实现膜层厚度,n、k值的测量。而且,由于增加了对散射率计算,使膜层的粗糙度测量从其它分析上分离出来,从而让我们可以实现膜层表面粗糙度的单独测量。
PARTS系列配有多种波长的产品以满足不同客户的需求,具体规格如下:
Model | Thickness Range | *Wavelength Range |
PARTS | 5nm-70µm | 380-1050nm |
PARTS-UV | 1nm-70µm | 200-1100nm |
PARTS-EXR | 5nm-70µm | 380-1700nm |
*以上数值会因薄膜堆叠层数变化而有所不同。
零配件清单如下:
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