镀层测厚仪 CMI-900

CMI900台式X荧光镀层测厚仪是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层测厚及材料成分分析，高性能X射线荧光光谱仪。快速精确的分析，正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度。简单的元素区分，二次光束过滤器可以分离重叠元素，性能优化，测量元素范围广，可预设参数。
CMI900 提供800多种预设应用参数/方法，杰出的长期稳定性。

自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果。

简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正。

坚固耐用的设计，可以在实验室或生产线上操作。

经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台。

适用行业：电子元件，五金电镀，合金。