KTH快温变试验箱

KTH快温变试验箱是产品在设计强度极限下，运用温度加速技巧（在上、下限极值温度内进行循环时，产品产生交替膨胀和收缩）改变外在环境应力，使产品中产生热应力和应变，透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工艺瑕疵]，以避免该产品于使用过程中，受到环境应力的考验时而导致失效，造成不必要的损失，对于提高产品出货良率与降低返修次数有显着的效果，另外应力筛本身是一种制程阶段的过程，而不是一种可靠度试验，所以应力筛选是100％对产品进行的程序。

KTH快温变试验箱产品特点：


规范要求：	a.可设定多种应力筛选（快温变率） 5℃/min、10℃/min、15℃/min的试验条件
	b.满足电子设备产品应力筛选、无铅制程、MIL-STD-2164、MIL-344A-4-16、MIL-2164A-19、NABMAT-9492、GJB-1032-90、GJB/Z34-5.1.6、IPC-9701...等试验要求
	c.可执行等均温与平均温试验方式
	d.采用铝片验证机台负载能力（非塑料负载）
创新&特色：	a.单一机台可执行可执行快速温变（应力筛选）、结露试验、高温高湿、温湿度循环等试验
	b.可筛选待测品负载数量大
控制器创新：	a.内建双向USB2.0随身碟储存接口（可拷贝试验曲线与加载试验程序）
	b.完整实时试验曲线分析显示，无时间限制
	c.可与e化管理系统进行整合监控

KTH快温变试验箱试验条件：

产品&规范	厂商名称	高温	低温	温变率	循环数	循环时间	备注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 电子产品应力筛选		工作极限温度	工作极限温度	5℃/min	10～12	3h20min
MIL-344A-4-16 电子设备环境应力筛选	设备或系统	71℃	-54℃	5℃/min	10
MIL-2164A-19 电子设备环境应力筛选		工作极限温度	工作极限温度	10℃/min	10		驻留时间为内部达到指定温度10℃时
NABMAT-9492 美军海军制造筛选	设备或系统	55℃	-53℃	15℃/min	10		驻留时间为内部达到指定温度5℃时
GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选	组件	85℃	-55℃	15℃/min	≧25		达到温度稳定的时间
GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选	设备或系统	70℃	-55℃	5℃/min	≧10		达到温度稳定的时间
笔记型计算机	主机板厂商	85℃	-40℃	15℃/min

技术规格：

KTH快温变试验箱Models （系统型）	-K408	-K800
内容积（Inside capacity） / 公升（Liter）	408 L	800 L
内箱尺寸（Inside dimensions（W．D．H）cm）	608085	10080100
外箱尺寸（Outside dimensions（W．D．H）cm）	141221220	181234235
温度冲击范围（Shock range）	-40℃～125℃
温度变化范围（Ramp rang）	3℃～15℃/min
驻留时间（Dell time）	30min
静态重量（Kg）（Static load weight）	30kg 以下
预备时间（Precooling time）	RT~-70℃:80min
温度稳定度（Temperature stability ℃）	±0.5℃
升降温斜率波动度（Fluctuation for ramp up/down）	±3.0℃（空载下）
分布均匀度（Temperature uniformity ）	±2.0℃（空载下）
设备噪音值（Noise）	70dB 以下

※KTH快温变试验箱以上规格仅供参考，请以本公司报价为主，最终解释权归公司所有