一、仪器的用途

　　透反射热台偏光显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业最常用的专业实验仪器。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。 
　　专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子材料学而研制。观察高聚物熔融和结晶过程中的形态,结晶速率及动力学计算；观察双折射体的光学效应；微生物形貌观察；组织细胞核、壁形态观察；地质材料偏光形态观察；无机晶体材料观察,特别对含有结晶体的材料进行热性能变化的研究更为重要。 
二、技术参数

1．目镜

2．物镜

3.光学放大倍数：50X--600X
4.目镜管：转轴式（倾斜30°），内置检偏器,可自由切换正常观察与偏光观察,推入式勃氏镜,中心可调,λ补偿器,λ/4 补偿器,石英锲补偿器
5.透射照明：6V 20W卤素灯,亮度可调,起偏器可360°旋转有0、90、180、270四个读数
　反射照明: 6V 20W卤素灯,亮度可调, 起偏器可旋转；
6.载物台：机械式附加旋转台面 尺寸 φ100mm， 360°旋转
7.调焦机构：粗微动同轴，齿轮转动 , 带限位及调节松紧机构
8.聚光镜：阿贝聚光镜NA1.25，升降上下可调
9.防霉系统:特有防霉
10.成像系统:配置日本JVC高像素CCD,像素达47万；
11.高精熔点测定仪(具体参数见熔点仪资料)
①精密温度控制仪显示窗口由上下二排四组数子及文字（英文）组成。
　上排：温度测量显示组，下排 ：温度设定显示组. 数显方式:整数显示
②恒温范围：室温---400℃, 恒温精度：全范围≤±0.5℅, 恒温系统波动度：±1℃
　如作熔点测量,则只能间接测量;必须通过标准物质熔点校正得到修正值后,再进行测量.
　此仪器只能测量相对温度,不能测量绝对温度; 仪器显示温度不等于物质的实际温度.
③温度速度：可设置升温速度范围(可调)：0.5---36秒/℃
　最大升温速度：室温---100℃≤40秒
　最慢升温速度达36秒/℃,达400℃时间：240分钟
　即刻恒温响应时间：≤0.01秒
④热台尺寸: 厚度:12mm; 大小:Φ110mm; 高温区: Φ30mm, 通光孔: Φ4mm
⑤热台的外体与高温度采用三根陶瓷分开隔热;在中心温度400℃,室温25℃时,热台外
　体温度≤70℃,热台最大载物重量：200克
⑥热台传感器:高精度的双传感器,连接热台与温控仪
三、系统组成

电脑型 (XPR-700E)：1.显微镜 2.适配镜 3.摄像器　4.A/D(图像采集) 5.N型热台
数码型 (XPR-700D)：1.显微镜 2.适配镜 3.数码相机 4.N型热台
四、总放大参考倍数

XPR-700E型：50--3400倍　　　　XPR-700D型：50--2000倍
五、选购件