非铁基体DT-230F分体式涂层测厚仪

非铁基体DT-230F分体式涂层测厚仪产品特点： 

·非铁基体DT-230F分体式涂层测厚仪采用涡流测厚方法，可无损伤地检测非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等）。

·便携式设计，手掌大小。

·非铁基体DT-230F分体式涂层测厚仪采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力。

·人性化设计，简单操作。

·宽角度LCD液晶显示。

·两种校准方式，零点校准和一点校准。

·公制和英制单位转换。

·具有电源欠电压提示。

·操作过程有蜂鸣声提示。

·具有自动关机功能。

非铁基体DT-230F分体式涂层测厚仪技术参数：

·测量范围：0～1250µm。

·低限分辨力：1µm(100µm以下为0.1µm)。

·示值误差：零点校准:±(1.5+3%H)µm。

·两点校准：±[(1%～3%)H+1.5]µm。

·测量条件：最小曲率:凸5mm、凹5mm。

·基体最小面积的直径：Ф10mm。

·最小临界厚度：0.4mm。

·环境温度：0～40℃。

·相对湿度：≤85%RH。

·关机方式：自动。

·电源：两节五号电池。

·外形尺寸：102×62×28mm。

·重量：99g（含电池）。

非铁基体DT-230F分体式涂层测厚仪测量时注意事项：

·基体金属特性：对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

·基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。

·边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

·曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。

·读数次数：通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

·表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

·磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作。

·测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直。

非铁基体DT-230F分体式涂层测厚仪标准配置：

·主机……一台

·标准片……四片

·基体……一块

·合格证……一份

·说明书……一份

·保修卡……一张