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XTL-705M精密测量显微镜
一、仪器用途:
正像型XTL-705M精密测量显微镜,操作方便和测量精度高,在机械电子,半导体IT,光纤,薄膜和材料等行业具有广泛用途,也是科研教学领域的常规装备。
仪器带有精密测量工作台,光栅数显测量系统,无限远长工作距平场物镜,六物镜转换器,粗微动调焦装置,LED同轴落射和反射照明及多种滤色镜,可作为计量检测仪器和工业金相显微镜用途。
二、仪器规格:
光学系统: |
无限远光学系统,正像型 |
放大倍率: |
50×,100×,200×,500× |
广角目镜: |
WF10×/22mm,带坐标线 |
无限远物镜: |
5×,10×,20×,50×(标配) |
物镜转换器: |
六孔滚珠内定位,DIC插片座 |
双目镜筒: |
倾角30º,瞳距55-75mm屈光度±5D |
三目输出: |
全视野同步影像输出,标准C接口镜头 |
三、测量系统:
测量工作台: |
200*200mm,测量范围X-Y:50*50mm |
旋转工作台: |
Φ120mm,360º旋转,游标5´,玻璃平台Φ75mm |
读数系统: |
精密光栅尺,数显表,分辨率0.5µm,RS232输出 |
测量精度: |
仪器示值误差±(1+L/25)µm,L-测量长度mm |
四、仪器结构:
调焦系统: |
同轴粗微动,滚珠导轨,升降135mm,微调2µm |
反射照明: |
同轴落射照明,可调光LED |
透射照明: |
非球面聚光镜,可调光LED |
输入功率: |
AC90-240V/50-60Hz/20W |
仪器质量: |
体积300*430*390mm³,重量35kg |
- 询价产品:XTL-705M精密测量显微镜
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